广延X射线吸收精细结构技术能够克服X射线衍射研究方法的缺陷

虽然X射线衍射技术对聚合物电解质的研究能够提供晶相复合物中聚合物与盐配位作用的重要数据，但是该技术不能够提供非晶态中聚合物与盐配位环境的信息，而后者对聚合物电解质的开发和应用更具重要意义。利用广延X射线吸收精细结构(cxtcndcdX—rayabsorptionfinestructure，EXAFS)技术能够克服X射线衍射研究方法的缺陷，阐明聚合物电解质中非晶态的局部结构，尤其是阳离子在聚合物中的配位环境。在-193~180℃的温度范围内，利用EXAFS技术对P(EO)xRbSCN和P(EO)xRbl(x＝4或x＝8)复合物的结构研究表明，在两种复合物中每个Rb+均位于由4个醚氧原子形成的配位壳内，二者之间差别在于P(EO)。RbSCN复合物中SCN-的N也位在配位壳内，而P(EO)3Rbl复合物中的I-却位于配位壳之外。显然，利用EXAFS技术得到的结果是对复合物中整体微观环境的平均描述，它仍旧不能从分子水平上解决非晶态复合物的结构问题。