纳米Si02的加入有利于抑制锂电极表面钝化膜的生成及界面稳定性

图6—2l是液体电解质及其含不同量的纳米Si02时的FTIR谱图，对于不含纳米SiO2的试样F丫IR谱图中3600cm—：附近有一强的吸收峰，在1640cm附近有一弱吸收峰，这分别对应杂质H2O中H-O…H伸缩振动和变形振动特征峰，随着纳米SiO2的加入，3600cm处吸收峰强度逐渐减弱1640cm吸收峰消失，这种变化的原因只能认为是SiO2的加人捕捉了其中的杂质水。
图6-21LiCl04／EC+PC及不同含量Si02(TS-530)FTIR谱图图6—22是凝胶聚合物电解质膜(GPE)及其含不同量Si02时FTIR谱图，1900~1700cm有强吸收峰，这是聚合物母体和EC、PC中的羰基(一C＝O)的伸缩振动；在1300—1000cm-1的强吸收峰归结为聚合物母体、EC和PC中的C—O伸缩振动叫。随着纳米Si02的加入，这两个位置峰形都发生了变化，1300~1000cm处吸收峰的变化可能是Si02与聚合物、EC和PC吸收峰叠加的缘故，1900一1700cm-’区间内的一C＝O伸缩振动峰的变化是加入的纳米Si02与一C--O相互作用的表现，由图可见，随着纳米Si02加入量的变化，低波数处峰强度逐渐增加，即低频的一C＝O组分增加，一C＝O活性降低，与锂电极的反应减弱。图6—22不同凝胶聚合物电解质中含不同量的Si02时的及其含不同量SiOz时的FTIR图谱A一纯GPE膜；B—GPE4-3％TS530；C—GPE4-5~TS530从以上FTIR分析可以得出，纳米Si02的加入一方面可以捕捉电解质中的痕量水分，另一方面纳米Si02与PGE中的一C＝O存在相互作用，降低了一C＝O的活性，这两个方面都有利于抑制锂电极表面钝化膜的生成，有利于界面稳定性。